Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Название анг.: Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuitsОписание документа: Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
Текст документа в графическом изображении (в других форматах поищите на форуме):
Еще документы скачать бесплатно
- МИ 263-82 Методические указания. Прибор измерительный двухкоординатный ДИП-1. Методы и средства поверки
- СНиП IV-14-82 Сборник комплексных цен на электрооборудование, монтаж и подключение кабелей или проводов внешней сети к аппаратам и приборам низковольтных комплектных устройств (СКЦЭ-84)
- СНиП IV-14-84 Дополнения и изменения к "Сборнику комплексных цен на электрооборудование, монтаж и подключение кабелей или проводов внешней сети к аппаратам и приборам низковольтных комплектных устройств (СКЦЭ-84)". Вып. 1
- ГОСТ 30457.3-2006 Акустика. Определение уровней звуковой мощности источников шума по интенсивности звука. Часть 3. Точный метод для измерения сканированием
- ГОСТ 29016-91 Эмали стекловидные и фарфоровые. Прибор для испытаний с помощью кислот и нейтральных жидкостей и их паров
- ГОСТ 29019-91 Эмали стекловидные и фарфоровые. Прибор для определения стойкости к горячим растворам моющих средств, используемых для стирки текстильных изделий