ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума

Название англ.: Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density

Содержание госта: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 1 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 2 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 3 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 4 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 5 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 6 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 7 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 8 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 9 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 10 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 11 из 12)
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (фото 12 из 12)