Название документа:

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Название анг.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer

Описание документа: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А.
Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния

Текст документа в графическом изображении (в других форматах поищите на форуме):
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 1 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 2 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 3 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 4 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 5 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 6 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 7 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 8 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 9 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 10 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 11 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 12 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 13 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 14 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 15 из 16)
ГОСТ Р 8.696-2010 (страница 16 из 16)

Еще документы скачать бесплатно