Название документа:

Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Название анг.: Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Описание документа: Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01

Текст документа в графическом изображении (в других форматах поищите на форуме):
ГОСТ 26239.5-84 (страница 1 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 2 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 3 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 4 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 5 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 6 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 7 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 8 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 9 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 10 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 11 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 12 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 13 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 14 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 15 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 16 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 17 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 (страница 18 из 18)

Еще документы скачать бесплатно